XI Ежегодная научно-техническая конференция молодых специалистов «Техника и технология современной фотоэлектроники» 14-15 апреля 2020г.

Приглашаем принять активное участие в XI Ежегодной научно-технической конференции молодых специалистов «Техника и технология современной фотоэлектроники», которая состоится 14-15 апреля 2020 г. в заочном формате

Конференция предполагает участие молодых специалистов не старше 35 лет для обсуждения широкого круга вопросов по следующим основным направлениям:

  • твердотельная и вакуумная фотоэлектроника;
  • гибридные технологии и приборы;
  • оптика и лазеры в современной фотоэлектронике;
  • технологии производства приборов вакуумной и твердотельной фотоэлектроники;
  • методы и системы измерений параметров твердотельных и вакуумных фоточувствительных приборов;
  • маркетинг, экономика и система менеджмента качества на предприятиях фотоэлектроники.

Поступившие Доклады участников будут размещены в данном разделе в период с 14 по 18 апреля 2020г. Все желающие будут иметь возможность обсудить  и задать вопросы по данным докладам, обратную связь принимаем по адресу konferenciya2020@niielectron.ru в свободной форме, с указанием ФИО и контакта.

В период с 21 по 22 апреля 2020г. будет проведено заседание конкурсной комиссии по оценке докладов по итогам, которого будет издан приказ о распределении мест с материальным вознаграждением:

  • За Первое место – 50 тыс. руб. (Пятьдесят тысяч рублей)
  • За Второе место – 30 тыс. руб. (Тридцать тысяч рублей)
  • За Третье место – 15 тыс. руб.  (Пятнадцать тысяч рублей)

Лучшие доклады по решению комиссии будут рекомендованы к публикации в журнале «Известия СПбГЭТУ «ЛЭТИ»

Участникам необходимо прислать заявку и доклад в формате А4 word объемом не более 4 листов (шрифт 12) на эл.адрес: konferenciya2020@niielectron.ru до 08 апреля 2020 года.

По всем вопросам обращайтесь к Председателю Совета молодых специалистов АО «ЦНИИ «Электрон» Асессорову Виктору Алексеевичу, номер тел.: (812) 294-49-84.

На нашем сайте мы используем Сookies, которые помогают нам оптимизировать ваш пользовательский интерфейс. Продолжая работу на сайте, вы соглашаетесь с обработкой нами полученных данных. Подробнее…